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圖片 名稱/價格/廠家 參數 詳細資料
名稱:WBL-820全自動比表麵積及孔隙度分
市場價格:¥148000
優惠價格:118400
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WBL-820
是否有現貨:
WBL係列全自動比表麵積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準,依據靜態容量法測量原理,通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程,測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品... 詳細
名稱:WBL-830全自動比表麵積及孔隙度分
市場價格:¥178000
優惠價格:142400
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WBL-830
是否有現貨:
WBL係列全自動比表麵積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準,依據靜態容量法測量原理,通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程,測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品... 詳細
名稱:WBL-830全自動比表麵積及孔隙度分
市場價格:¥178000
優惠價格:142400
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WBL-830
是否有現貨:
WBL係列全自動比表麵積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準,依據靜態容量法測量原理,通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程,測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品... 詳細
名稱:WBL-830全自動比表麵積及孔隙度分
市場價格:¥178000
優惠價格:142400
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WBL-830
是否有現貨:
WBL係列全自動比表麵積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準,依據靜態容量法測量原理,通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程,測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品... 詳細
名稱:上海儀電物光WKL-722粉塵形貌分散
市場價格:¥55000
優惠價格:44000
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WKL-722
是否有現貨:
工作原理 WKL-722粉塵形貌分散度測試儀將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行粉塵分散度分析和粒度測量的粉塵分析係統,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和粉塵分散度處理分析軟件組成。該係統通... 詳細
名稱:上海儀電物光WBL係列全自動比表麵
市場價格:¥麵議
優惠價格:麵議
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WBL係列
是否有現貨:
WBL係列全自動比表麵積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準,依據靜態容量法測量原理,通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程,測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品... 詳細
名稱:上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析
市場價格:¥55000
優惠價格:44000
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WKL-702
是否有現貨:
工作原理: WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析係統,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該係統通過專用... 詳細
名稱:上海儀電物光WJL-602型激光粒度儀
市場價格:¥68000
優惠價格:54400
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WJL-602
是否有現貨:
詳細介紹: 采用全量程米氏散射理論 1、測量範圍:0.1~600微米 2、準確性誤差:〈±1%(國家標準物質D50) 重複性偏差:〈±1%(國家標準物質D50) 電氣要求:交流220±10V,50Hz, 200W 外觀尺寸:1000×330×320mm... 詳細
名稱:上海儀電物光WJL-612型激光粒度儀
市場價格:¥116000
優惠價格:92800
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WJL-612
是否有現貨:
詳細介紹: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。 顆粒測試的數據計算一般分為無約束擬合反演和有... 詳細
名稱:上海儀電物光WJL-626型激光粒度儀
市場價格:¥180000
優惠價格:144000
廠家: 【上海儀電物光】折射儀,旋光儀,濁度儀,熔點儀
型號:WJL-626
是否有現貨:
詳細介紹: 工作原理: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。 顆粒測試的數據計算一般分為無約束... 詳細
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